产品分类

联系我们

  • 公司地址:天津市南开区科研西路12号405室
  • 联系电话:022-24380306
  • 传真:022-24380306
  • 联系人:黄先生 谢先生
  • 手机:13110027252 13516162517
  • 点击这里给我发消息

Er-Yb共掺双包层光纤的研制

  • 2010-03-04 13:17:02
  • 点击:
引言
         近年来,高功率1550nm波段激光器、放大器的研究受到重视,而作为该波段最早采用的掺Er光纤,目前正受到Er-Yb共掺光纤的挑战。研究表明,相比于传统掺Er光纤,Er-Yb共掺光纤具有多方面的优点,适合1550nm波段光源发展趋势的要求。首先,在掺Er光纤中,随着Er离子浓度的进一步提高,Er离子会发生聚集,引发Er离子对的上转换效应,产生浓度淬灭现象,直接影响泵浦转换效率和信号增益的提高,采用Er-Yb共掺设计,由于Yb离子具有与Er离子基本相同的离子半径,可以明显降低Er离子对的形成,从而提高Er离子掺杂浓度的上限;其次,Yb离子2F5/2的能级和Er离子4I11/2能级非常接近,其离子能量很容易从Yb的2F5/2的能级转移到Er的4I11/2能级上,利用该能量转换,可以实现Yb离子对Er离子的间接泵浦,从而扩宽泵浦源的选择范围。
         如上所述,由于Yb离子的掺入,Er-Yb共掺光纤获得了更宽的泵浦吸收带。研究表明:Yb离子泵浦范围覆盖800nm到1100nm,在该波段范围内,商用化的半导体激光器已达到千瓦量级的输出功率,使得高功率Er-Yb共掺光纤光源的研制成为可能。为了达到多模半导体激光器泵浦光功率的高效耦合,Er-Yb共掺双包层光纤的研制成为了当前研究的热点,采用双包层结构设计,泵浦源输出的泵浦光直接耦合入直径为几十到几百μm的内包层中,比传统单包层光纤的耦合面积增加了2个数量级,耦合效率远远高于传统的单包层光纤。
本文采用MCVD研制工艺结合溶液掺杂法制备Er-Yb共掺双包层光纤。深入研究了Er-Yb共掺双包层光纤预制棒制作工艺,在国内首先研制出国产高性能Er-Yb共掺双包层光纤,测量了光纤的基本参数,分析并讨论了光纤的损耗吸收和荧光特性。
         1 光纤研制
         上世纪八十年代中期,Poole等人提出以MCVD工艺为基础的汽相掺杂与液相掺杂技术,随后以OVD(Outer vapor deposition)和VAD(Vapor phase axial deposition)工艺为基础的汽相掺杂技术相继发明,丰富了稀土离子光纤研制的技术手段。由于汽相掺杂技术对设备要求高,成本昂贵,我们采用了MCVD工艺加溶液掺杂法(即液相掺杂)这样一条工艺路线来研制Er-Yb共掺双包层光纤。基本过程是:首先,利用MCVD工艺制作疏松的、未烧结的预制棒,然后进行溶液掺杂的工艺过程,将预制棒浸入按比例配置好的稀土卤化物水溶液中,保持一定的时间,溶液中的稀土离子会扩散到光纤预制棒的芯区中,由溶液的浓度和浸泡的时间决定掺入光纤预制棒芯区的浓度。取出预制棒,在一定的温度下通入干燥的高纯氯气(Cl2)、氧气(O2)或者氦气(He)进行脱水、干燥,在大约2000℃高温下烧结成为透明的光纤预制棒,最后,根据设计要求对预制棒进行加套至所需的芯包比后,对预制棒进行设计加工,处理成所需的内包层结构,然后拉制成Er-Yb共掺双包层光纤。该工艺流程如图1所示:

         在光纤研制过程中,为了保证石英反应管中残留的氢氧根在高温下不会扩散进入芯区,使光纤的损耗增加,我们在石英衬管中制作了阻挡层,该过程中包含如下的化学反应过程:

         根据上述反应结果,光纤阻挡层包含SiO2-P2O5-F,P的掺入提高了折射率,F的掺入降低折射率,使得阻挡层最终折射率与石英包层的折射率相互匹配。
         光纤疏松芯层的沉积主要包含上述前三个反应过程,形成了SiO2-GeO2-P2O5的网络结构,在该结构中,Yb离子和Er离子成团的几率仍然较大,不利于稀土离子掺杂浓度的提高。根据有关报道,掺入适量的Al2O3有助于防止稀土离子对的形成。为此,我们采用了Er-Yb-Al多组分的溶液共掺技术,我们在掺入Yb离子、Er离子的同时掺入Al2O3。Al2O3的掺入,一方面有效解决了离子析晶现象,提高了两种稀土离子的掺杂浓度;另一方面,由于Al2O3具有较低的挥发性,Al2O3的掺入使光纤纤芯的折射率凹陷减小,弥补了纤芯折射率的下陷。如图2(a)(b)所示:

         根据文献的有关结论,双包层光纤的泵浦吸收不仅与掺杂浓度、纤芯尺寸(纤芯和内包层面积比)有关,还与内包层的形状有关,圆形内包层由于其完美的对称性,存在大量的螺旋光线,这些光线在内包层中多次反射却永远也不能达到纤芯区域,从而不可能被纤芯吸收,这样既便采用较长的光纤仍有大量的漏光存在,使得转换效率难以提高。为了提高光纤对泵浦光的吸收效率,

         在实验中我们采用了D型的内包层设计,将MVCD工艺所研制的直径为22mm的圆形预制棒进行研磨,沿径向磨掉2.75mm,最终形成长直径为22mm、短直径为19.25mm的D型预制棒,拉成光纤后,内包层尺寸为350μm×400μm,如图3所示。以Er、Yb离子浓度比分别为1:13和1:8的比例研制了两个光纤样品,样品参数如表1所示。

         2 光纤损耗谱和荧光特性
         为了分析光纤样品的损耗吸收特性,我们将1号光纤样品的预制棒采用单包层光纤的拉丝工艺,制作了外径125μm的单包层光纤,采用PK2500综合光纤测试仪(英国),测量了光纤损耗谱,如图4所示:光纤有四个主要吸收带,即中心波长为650nm、820nm、970nm和1480nm的吸收带,其中中心波长为650nm、820nm和1480nm吸收带为Er离子的典型吸收峰;处于900nm-970nm的吸收带,与Yb离子的典型吸收谱线相吻合,由于Er离子对980nm、1080nm附近波长均有一定的吸收,因而最终形成了900nm到1080nm的宽吸收带,这是Er离子及Yb离子吸收带的交叠造成的。
   
         为了测量光纤的荧光特性,我们采用了976nm波长的高功率半导体激光器做泵浦源,泵浦10米长的Er-Yb共掺双包层光纤样品(样品2),获得了光纤的荧光输出光谱,如图5所示:光纤荧光光谱包括了两个主要荧光辐射带,一个从1000nm到1200nm,另一个从1450nm到1600nm。从谱线上看,前者落在Yb离子辐射带的范围之内,主要为Yb离子荧光光谱,后者为Er离子的荧光辐射所形成,前者光强略高于后者。造成Yb离子荧光强度高于Er离子荧光强度的原因,分析认为主要有两方面的可能,一是光纤样品内Er离子的掺杂浓度偏低,Yb离子到Er离子的能量转换没有充分完成;另一方面,Yb离子在所采用的泵浦波长976nm处有较强吸收,形成了Yb离子在1000nm到1200nm较强的荧光辐射。由于研究者主要是利用光纤在1450nm到1600nm的荧光增益来获得激光输出,因此很多报道都采用了其他波长的泵浦源来抑制Yb离子的荧光强度。   
         3 结论
         采用MCVD工艺结合溶液掺杂法进行了Er-Yb共掺双包层光纤的研制,实现了国产高性能Er-Yb共掺双包层光纤的研制,成 功制作了大光纤尺寸、高掺杂吸收的Er-Yb共掺双包层光纤,光纤主要参数达到:纤芯直径20μm,数值孔径0.07,内包层尺寸350x400μm,椭圆度0.98,采用文献[16]中有效吸收系数测量方法,测量了光纤976nm泵浦波长处的有效吸收系数,最大达到2db/m。所研制光纤样品包含了650nm、820nm、970nm和1480nm等吸收带,具有典型的Er-Yb共掺吸收特性,实验证明:MCVD工艺加溶液掺杂法制备Er-Yb共掺双包层光纤的工艺基本可行,继续优化光纤内Er、Yb离子的掺杂比例等工艺参数,还可进一步提高光纤的转换效率。